Mapping sunflower yield as affected by Ridolfia segetum patches and elevation by applying Evolutionary Product Unit Neural Networks to remote sensed data

Áreas de investigación:

• Methodology - Machine learning

Año:

2008

Tipo de publicación:

Artículo

Autores:

• Gutiérrez, Pedro Antonio
• López-Granados, F.
• Peña-Barragán, J.M
• Jurado-Expósito, M.
• Gómez-Casero, M. T.
• Hervás-Martínez, César

Journal:

Computers and Electronics in Agriculture

Volumen:

60

Número:

2

Páginas:

122-132

Nota:

JCR (2008): 1.273 (category AGRICULTURE, MULTIDISCIPLINARY, position 8/35 Q1)

Comentarios:

JCR (2008): 1.273 (category AGRICULTURE, MULTIDISCIPLINARY, position 8/35 Q1)