Actualidad Universitaria
Inicio
Vida Académica
Ciencia
Institucional
Internacional
Becas y Empleo
Emprendimiento
Cultura
Vida universitaria
Deportes
Inicio
›
Vida Académica
›
Mostrando artículos por etiqueta: Caracterización topográfica
SCAI informa: Nota de Aplicación SCAI-22-002-MIC - Caracterización topográfica y del acabado superficial de materiales mediante microscopía confocal e interferométrica.